VEO是一款便携式超声波相控阵探伤仪,.其特点是操作简单、高性能、功能先进。技术人员可以能轻易以手指触摸操作。

仪器采用直观的菜单系统和工作驱动流程,有完整的说明菜单和向导操作,会让用户通过扫描同时最优化。

 

声速、延迟、TCG DACTOFD的设置及编码器校准的快速高效向导,均作为标准提供。校准状态通过一个简单的转换系统清晰的显示在屏幕上,veo是否已校准用于检测任务,操作者可一目了然。

 

VEO 能满足大部份无损检测(NDT)需要典型应用包括焊缝检测、腐蚀检测、宇航领域和复合检测等。

主要特点:

16:64 相控阵 (16 脉冲发生/接收器上升至64元素) 

可升级至16:128 (16 脉冲发生/接收器上升至128元素)

快速编码器扫描,能实示显示S, L, A, B, C, TOFD 扫描

能同步超声波及相控阵检测

内建6GB 存储盘能通过USB 钥匙增加容量

热插入式充电池

 

3D扫描图

VEO扫描支持多探头和多重扫描,可从许多来源快速有效的设置检测计划。可从一定范围的几何学焊缝中选择,并可显示出你已选择用于检测工件的探头。多重跳转路径显示在3D扫描图上,使用者可确保完全覆盖焊缝检测。有简单的参考点指示,可以快速确定探头在工件上所处的位置。

 

TOFD

VEO能包括用于TOFD检测,采用的模拟滤波器及加上低噪声的放大器,高速数据采集和高清晰度显示,高品质的TOFD扫描可以与相控阵同时查看。在焊缝检测时,相控阵和TOFD检测可以一起评价以提高可信度。

 

多重扫描

VEO可以快速设置为显示一个大范围的多重扫描视图。这允许使用者选择一个重要的检测视图,并获得最佳的显示效果。扇形扫描、顶部、边部和端视图都可以结合多重A扫描视图和TOFD。指针和标尺可用于在视图中识别轨迹,实时测量工具可显示尺寸和注释。

 

A扫描

veo支持传统的用单晶探头的超声波检测。高分辨率的LCD和快速的图形重现,确保高的精度水平和快速的交互式波形显示。由于高分辨率的LCD显示,测量清晰易读,宽屏幕模式提供了巨大的扫描视窗区域。

 

UT Studio

UT Studio是基于计算机的相控阵分析和生成报告的分析软件。记录的veo数据文件可以很容易的通过U盘传输,并用于生成新的视窗和影像。使用者可以简单的将veo数据文件拖拽到显示模板中以创建多个视窗。

软件内包括了强大的测量指针和抽取器用于识别轨迹、尺寸和标注缺陷。容易生成报告,并以PDF格式输出。