安装在透射电镜上的Olympus CCD的基本使用方法
Basic Usage Methods of Olympus CCD Installed in Transmission Electron Microscope
摘 要
介绍了安装在JEM-2100高分辨透射电镜上的Olympus CCD的基本使用方法, 包括试样的观察和图片的采集与存储, 曝光时间的设置, 图片采集模式的选择, 扣除背底的步骤, 利用傅里叶变换进行的物镜消像散, CCD开关机等。
Olympus CCD
使用方法
transmission electron microscope
Olympus CCD
usage method
Abstract
Basic usage methods of Olympus CCD installed in JEM-2100 TEM were explained, including how to observe samples, acquire and save images, set exposure time, select image acquiring style; procedures of subtracting background; objective anastigmat using FFT, turning on and off CCD.
中图分类号 TG115.21+5.3 TN16
所属栏目 试验设备及应用
基金项目 青岛科技大学博士启动基金(0022503)
收稿日期 2013/2/28
修改稿日期
网络出版日期
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备注赵梅(1974-), 女, 副教授, 博士。
引用该论文: ZHAO Mei,LI Cheng-dong,SHANG Zhen-hua,SUI Jing. Basic Usage Methods of Olympus CCD Installed in Transmission Electron Microscope[J]. Physical Testing and Chemical Analysis part A:Physical Testing, 2014, 50(1): 41～45
赵梅,李成栋,尚振华,隋晶. 安装在透射电镜上的Olympus CCD的基本使用方法[J]. 理化检验－物理分册, 2014, 50(1): 41～45
被引情况:
【1】李霞章,DENG Fei,NI Chao-ying,陈志刚, "原位透射电子显微术研究进展",理化检验－物理分册 51, 225-228(2015)
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参考文献
【1】左演声, 陈文哲, 梁伟. 材料现代分析方法[M].北京: 北京工业大学出版社, 2000.
【2】戎咏华.分析电子显微学导论[M].北京: 高等教育出版社, 2006.
【3】进藤大辅, 及川哲夫.材料评价的分析电子显微方法[M].刘安生,译.北京: 冶金工业出版社, 2001.
【4】郭可信, 叶恒强. 高分辨电子显微学在固体科学中的应用[M].北京: 科学出版社, 1985.
【5】进藤大辅, 平贺贤二.材料评价的高分辨电子显微方法[M].刘安生,译.北京: 冶金工业出版社, 2002.
【2】戎咏华.分析电子显微学导论[M].北京: 高等教育出版社, 2006.
【3】进藤大辅, 及川哲夫.材料评价的分析电子显微方法[M].刘安生,译.北京: 冶金工业出版社, 2001.
【4】郭可信, 叶恒强. 高分辨电子显微学在固体科学中的应用[M].北京: 科学出版社, 1985.
【5】进藤大辅, 平贺贤二.材料评价的高分辨电子显微方法[M].刘安生,译.北京: 冶金工业出版社, 2002.
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