Cracking Reason for Li-Zn Ferrite Tablets in Failure Phase Shifters
摘 要
利用扫描电子显微镜对失效移相器中开裂Li-Zn铁氧体片进行了显微组织观察, 对其开裂原因进行了分析。结果表明: 压制工艺中聚乙烯醇(PVA)粘结剂添加过多导致铁氧体片致密度及均匀性降低, 这是铁氧体片服役过程中开裂的主要原因; 另烧结温度过低, 导致烧结致密化不充分, 气孔率偏高, 这是铁氧体片在服役过程中开裂的另一个原因。较佳的PVA添加量为8%(质量分数),烧结温度为1 020 ℃,此条件下得到的铁氧体片可在移相器中长期服役而不开裂。
Abstract
Scanning electron microscope was used to observe the microstructure of cracking Li-Zn ferrite tablets in failure phase shifters, and reasons of its cracking was analyzed. The results show that short of density and uniformity, which constituted the main reasons for the cracking of the Li-Zn ferrite tablets during service process, were majorly resulted from adding PVA binder excessively in suppressing process. Lower sintering temperature which led to inadequate sintering densification and high porosity in the Li-Zn ferrite tablets played the secondary part in cracking causes of Li-Zn ferrite tablets in failure phase shifters. Good PVA amount was 8%(mass) and sintering temperature was 1 020 ℃. Li-Zn ferrite tablets obtained at above conditions would not crack after short term service in phase shifters.
中图分类号 TM277.1
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基金项目 国防科工委共性基金资助项目
收稿日期 2010/4/14
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备注史光华(1989-),男,硕士研究生。
引用该论文: SHI Guang-hua,BAO Sheng-xiang,ZHUANG Li-bo,YE Jian-hai. Cracking Reason for Li-Zn Ferrite Tablets in Failure Phase Shifters[J]. Physical Testing and Chemical Analysis part A:Physical Testing, 2011, 47(2): 98~101
史光华,包生祥,庄立波,叶建海. 失效移相器中Li-Zn铁氧体片的开裂原因[J]. 理化检验-物理分册, 2011, 47(2): 98~101
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参考文献
【1】蒋微波. 相控阵雷达中的多晶微波铁氧体材料及器件[J]. 磁性材料及器件, 2004, 35(6): 31-39.
【2】BRAY J R,ROY L. Development of a millimeter-wave ferrite-filled antisymmetrically biased rectangular wave guide phase shifter embedded in low-temperature cofired ceramic[J]. Transactions on Microwave Theory and Techniques,2004,52(7):1732-1739.
【3】CHE W Q,NING E K,WU K. Millimeter-wave ferrite phase shifter in substrate integrated waveguide[J]. Antennas and Propagation Society,AP-S International Symposium (Digest),2003,4:887-890.
【4】DILLON B M,GIBSON A A P. Microwave and thermal analysis of a high-power ferrite phase shifter[J]. Transactions on Magnetics,2002,38(2):1149-1152.
【5】郑荣成, 吴宏武, 黄仁义,等. 振动力场对铁氧体粘结磁体力学性能和磁性能的影响[J]. 材料导报, 2005, 19(7): 133-134.
【6】刘承勇, 兰中文, 蒋晓娜,等. 预烧温度对Li-Zn铁氧体微结构和性能的影响[J]. 压光与声光, 2008, 30(5): 604-607.
【7】韩志全, 廖杨, 冯涛. 氧化物低温烧结Li系铁氧体的烧结致密化、致密化过程及微波性能[J]. 磁性材料及器件, 2007, 38(2): 23-39.
【8】江红, 郭佳, 赵路,等. LiZn铁氧体的制备和吸波性能的研究[J]. 无机材料学报, 2010, 25(1): 73-76.
【9】张雷, 李志友, 周科朝,等. 聚乙烯醇在镍铁氧体压坯中的脱脂行为[J]. 粉末冶金材料科学与技术, 2005, 10(6): 340-343.
【10】余红雅, 傅如闻, 曾德长,等. 粘结剂对锶铁氧体磁性能的影响[J]. 兵器材料科学与工程, 2005, 28(4): 41-45.
【11】刘承勇, 兰中文, 蒋晓娜,等. 烧结温度对Li0.35Zn0.3Fe2.35O4铁氧体微结构和磁性能的影响[J]. 磁性材料及器件, 2008, 39(2): 36-38.
【12】王维, 祁欣, 王锦辉. 烧结对低功耗掺杂MnZn铁氧体性能的影响[J]. 人工晶体学报, 2007, 36(2): 410-414.
【13】黄永杰, 李世堃, 兰中文. 磁性材料[M]. 北京: 电子工业出版社, 1994.
【2】BRAY J R,ROY L. Development of a millimeter-wave ferrite-filled antisymmetrically biased rectangular wave guide phase shifter embedded in low-temperature cofired ceramic[J]. Transactions on Microwave Theory and Techniques,2004,52(7):1732-1739.
【3】CHE W Q,NING E K,WU K. Millimeter-wave ferrite phase shifter in substrate integrated waveguide[J]. Antennas and Propagation Society,AP-S International Symposium (Digest),2003,4:887-890.
【4】DILLON B M,GIBSON A A P. Microwave and thermal analysis of a high-power ferrite phase shifter[J]. Transactions on Magnetics,2002,38(2):1149-1152.
【5】郑荣成, 吴宏武, 黄仁义,等. 振动力场对铁氧体粘结磁体力学性能和磁性能的影响[J]. 材料导报, 2005, 19(7): 133-134.
【6】刘承勇, 兰中文, 蒋晓娜,等. 预烧温度对Li-Zn铁氧体微结构和性能的影响[J]. 压光与声光, 2008, 30(5): 604-607.
【7】韩志全, 廖杨, 冯涛. 氧化物低温烧结Li系铁氧体的烧结致密化、致密化过程及微波性能[J]. 磁性材料及器件, 2007, 38(2): 23-39.
【8】江红, 郭佳, 赵路,等. LiZn铁氧体的制备和吸波性能的研究[J]. 无机材料学报, 2010, 25(1): 73-76.
【9】张雷, 李志友, 周科朝,等. 聚乙烯醇在镍铁氧体压坯中的脱脂行为[J]. 粉末冶金材料科学与技术, 2005, 10(6): 340-343.
【10】余红雅, 傅如闻, 曾德长,等. 粘结剂对锶铁氧体磁性能的影响[J]. 兵器材料科学与工程, 2005, 28(4): 41-45.
【11】刘承勇, 兰中文, 蒋晓娜,等. 烧结温度对Li0.35Zn0.3Fe2.35O4铁氧体微结构和磁性能的影响[J]. 磁性材料及器件, 2008, 39(2): 36-38.
【12】王维, 祁欣, 王锦辉. 烧结对低功耗掺杂MnZn铁氧体性能的影响[J]. 人工晶体学报, 2007, 36(2): 410-414.
【13】黄永杰, 李世堃, 兰中文. 磁性材料[M]. 北京: 电子工业出版社, 1994.
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