JEM-2100型透射电子显微镜的维护与故障清除
Maintenance and Fault Clearing of JEM-2100 TEM
摘 要
JEM-2100型透射电子显微镜是高分辨电子显微镜, 对室内环境要求严格。管理者必须对设备进行定期检查和维护工作, 保持电镜的清洁和正常运行。介绍了几种常见的故障及其解决办法供参考。
维护
故障
TEM
maintenance
fault
Abstract
JEM-2100 TEM is an ultrahigh resolution electron microscope that requires strict indoor environment.It′s important for users to periodically inspect and maintain the instrument,and also keep it clean and good running.Some fault cases of the instrument were presented including ways how to clear them.
中图分类号 TN16
所属栏目 试验设备及应用
基金项目
收稿日期 2011/11/25
修改稿日期
网络出版日期
作者单位点击查看
备注李荣柱(1979-), 男, 工程师。
引用该论文: LI Rong-zhu,YAO Su-juan. Maintenance and Fault Clearing of JEM-2100 TEM[J]. Physical Testing and Chemical Analysis part A:Physical Testing, 2012, 48(7): 454～456
李荣柱,姚素娟. JEM-2100型透射电子显微镜的维护与故障清除[J]. 理化检验－物理分册, 2012, 48(7): 454～456
共有人对该论文发表了看法，其中：
人认为该论文很差
人认为该论文较差
人认为该论文一般
人认为该论文较好
人认为该论文很好
参考文献
【1】近藤大辅, 及川哲夫.材料评价的分析电子显微方法[M].刘安生, 译.北京:冶金工业出版社, 2001:42-43.
【2】近藤大辅, 平贺贤二. 材料评价的高分辨电子显微方法[M].刘安生, 译.北京:冶金工业出版社, 2002:28-30.
【3】董全林, 于成交, 袁水平, 等.透射电子显微镜高压电源箱气体绝缘技术及充气工艺[J].电子显微学报, 2011, 30(4): 455-459.
【2】近藤大辅, 平贺贤二. 材料评价的高分辨电子显微方法[M].刘安生, 译.北京:冶金工业出版社, 2002:28-30.
【3】董全林, 于成交, 袁水平, 等.透射电子显微镜高压电源箱气体绝缘技术及充气工艺[J].电子显微学报, 2011, 30(4): 455-459.
相关信息
