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TFT面阵探测器X射线数字透射成像
          
TFT Flat Detector X-Ray Digital Transmission Imaging

摘    要
通过对裂纹模拟缺陷试件的数字透射成像检测试验,分析并研究了面阵探测器成像检测系统、透照参数、检测工艺与检测图像质量的关系,并给出了检测过程中应该注意的问题。具体试验表明:面阵探测器X射线数字成像系统在一定厚度范围内的检测效果(主要是图像的单丝像质计指数)优于同厚度的射线照相B级要求。
标    签 面阵列探测器   数字透射成像   检测参数   图像质量   Flat detector   Digital transmission imaging   Parameter   Image quality  
 
Abstract
Through the simulation of crack defects of digital transmission imaging specimens, array detector imaging detection system, parameter, test process and the quality of images were analyzed and investigated, the points which should be paid attention to in the detection process were given. Experiments showed that the results primarily the rends of the image quality indication of single acquired by array detector X-ray digital imaging system within a certain thickness range were better than by the industrial radiography B level requirement within the same thickness.

中图分类号 TG115.28

 
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所属栏目 试验研究

基金项目 国防科技工业技术基础科研课题基金资助项目(T2007A001)

收稿日期 2010/8/18

修改稿日期

网络出版日期

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备注张祥春(1981-),男,工程师,主要从事X射线数字透射成像及工业CT检测技术研究。

引用该论文: ZHANG Xiang-Chun,CAI Liang-Xu,ZHANG Lu,WANG Man. TFT Flat Detector X-Ray Digital Transmission Imaging[J]. Nondestructive Testing, 2011, 33(5): 32~34
张祥春,蔡良续,张鹭,王曼. TFT面阵探测器X射线数字透射成像[J]. 无损检测, 2011, 33(5): 32~34


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参考文献
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【3】美国无损检测学会,编.美国无损检测手册·射线卷[M].《美国无损检测手册》译审委员会,译.上海:世界图书出版公司,1992.
 
【4】梁丽红,孔凡琴,路宏年.X射线非晶硅面阵探测器B级像质的研究[J].无损检测,2005,20(5):128-132.
 
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