计算机射线照相(CR)技术参数对灵敏度的影响
The Effec of Technical Parameters for the Sensitivity of Computed Radiographic Testing
摘 要
就目前业界普遍关注的计算机射线照相(CR)中各参数对检测灵敏度的影响问题进行了分析。试验验证了X射线管电压、曝光量、不同成像板型号和扫描参数对像质计灵敏度的影响规律。最后提出了CR技术应用中需要注意的问题。
系统参数
灵敏度
Computed radiographic testing
System parameters
Sensitivity
Abstract
Computed radiography is a research hot in present NDT field. The effect of various parameters on the sensitivity was analyzed. Experiments were carried out to verify the effect of parameters on image quality, such as X-ray tube voltage, exposure, imaging plates type and scanning parameters. At last the problems needed for special concerning were concluded for CR technology.
中图分类号 TG115.28
所属栏目 2011年远东无损检测论坛论文精选
基金项目
收稿日期 2011/5/31
修改稿日期
网络出版日期
作者单位点击查看
备注王军(1966-)，男，本科，高级工程师，主要从事无损检测及压力容器和压力管道的检验工作。
引用该论文: WANG Jun,QIANG Tian-Peng. The Effec of Technical Parameters for the Sensitivity of Computed Radiographic Testing[J]. Nondestructive Testing, 2011, 33(10): 50～52
王军,强天鹏. 计算机射线照相(CR)技术参数对灵敏度的影响[J]. 无损检测, 2011, 33(10): 50～52
共有人对该论文发表了看法，其中：
人认为该论文很差
人认为该论文较差
人认为该论文一般
人认为该论文较好
人认为该论文很好
参考文献
【1】强天鹏.射线检测［M］.北京：中国劳动社会保障出版社,2007.
【2】ASTM E 2445—2005无损检测计算机射线照相系统的长期稳定性与鉴定方法［S］.
【3】ASTM E 2446—2005无损检测计算机射线照相系统的分类［S］.
【4】EN 14784-1—2005无损检验存储式磷成像板工业计算机射线照相第1部分：系统分类［S］.
【5】EN 14784-2—2005无损检测存储式磷成像板工业计算机射线照相第2部分：用X射线和γ射线检测金属材料的一般原则［S］.
【2】ASTM E 2445—2005无损检测计算机射线照相系统的长期稳定性与鉴定方法［S］.
【3】ASTM E 2446—2005无损检测计算机射线照相系统的分类［S］.
【4】EN 14784-1—2005无损检验存储式磷成像板工业计算机射线照相第1部分：系统分类［S］.
【5】EN 14784-2—2005无损检测存储式磷成像板工业计算机射线照相第2部分：用X射线和γ射线检测金属材料的一般原则［S］.
相关信息
