暗室处理引起的底片质量问题及其预防
Films Quality Issue and Prevention During Darkroom Processing
摘 要
对由于暗室处理不当而引起的底片质量问题进行了归纳和总结，分析了常见底片伪缺陷的种类、产生原因、识别方法，提出了一些预防措施和解决方法，并将这些方法应用于工程实践中，取得了良好的效果。
底片
伪缺陷
Darkroom
Film
False defects
Abstract
The common types of false negatives defects and film quality problem due to unqualified darkroom processing were summarized and analyzed, together with their causes, prevention and identification methods. Some solution measures were put forward. The summary was applied in engineering practice and obtained good effect.
中图分类号 TG115.28
所属栏目 试验研究
基金项目
收稿日期 2012/2/5
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备注孟震(1976-)，男，工程师，工学学士，从事焊接及无损检测技术工作。
引用该论文: MENG Zhen. Films Quality Issue and Prevention During Darkroom Processing[J]. Nondestructive Testing, 2013, 35(3): 45～47
孟震. 暗室处理引起的底片质量问题及其预防[J]. 无损检测, 2013, 35(3): 45～47
被引情况:
【1】王勇,蓝锦,刘志权, "一种手摇式伽马探伤机的附加传动装置",无损检测 37, 78-79(2015)
【2】王勇,吴凯,陈海英,肖俊, "一种辨别暗袋曝光的方法",无损检测 37, 82-83(2015)
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参考文献
【1】强天鹏.射线检测［M］.北京：中国劳动社会保障出版社,2007.
【2】ASME Ⅴ—2007-22 SE-999工业射线照相胶片处理质量控制标准指南［S］.
【3】GB/T 9348—1998无损检测工业射线照相胶片［S］.
【4】JBT 4730.2—2005承压设备无损检测 第二部分射线检测［S］.
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【4】JBT 4730.2—2005承压设备无损检测 第二部分射线检测［S］.
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