二次射线照相法计算支撑绝缘子缺陷尺寸
Calculation of the Defect Size of Support Insulator Defects Size by Secondary Radiography
摘 要
将设备缺陷分成表面缺陷与内部缺陷两种情况进行讨论，表面缺陷尺寸直接利用三角形相似定理进行计算，而内部缺陷则需用二次透照方法所得的图形利用两次三角形相似定理进行计算。最后将设备解体(即打开罐体)后直接对缺陷进行测量，将这直接测量值与以前透照方法所得的计算值进行比较，验证了该方法的准确性。
缺陷尺寸
计算方法
X-ray
defect size
calculation method
Abstract
The device defect is divided into two cases of surface defects and internal defects to discuss, the surface defect size direct use of triangle similarity theorem to calculate, the internal defects use secondary radiographic methods and two triangles similarity to calculate. Finally, the defect measure by the disintegration of equipment and then verify the accuracy of the method.
中图分类号 TG115.28
所属栏目 实践经验
基金项目 云南电网公司重点资助项目“基于X射线的电力设备数字成像透视检测系统研发与应用”(K-YN2010-301)
收稿日期 2012/4/23
修改稿日期
网络出版日期
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备注郭铁桥(1958-)，男，学士，副教授，主要从事机电、物流系统研究。
引用该论文: GUO Tie-Qiao,GUO Tao-Tao,WANG Da-Da,GAO Kuo,YU hong,WU Zhang-Qin. Calculation of the Defect Size of Support Insulator Defects Size by Secondary Radiography[J]. Nondestructive Testing, 2013, 35(5): 78～80
郭铁桥,郭涛涛,王达达,高阔,于虹,吴章勤. 二次射线照相法计算支撑绝缘子缺陷尺寸[J]. 无损检测, 2013, 35(5): 78～80
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参考文献
【1】曾祥照.X射线实时成像检测图像最佳放大倍数和最小检出缺陷［J］.CT理论与应用研究,2002,11(4):13-16.
【2】孔凡琴，路宏年.基于数字射线成像的航空发动机涡轮叶片缺陷尺寸的自动测定［J］.兵工学报,2005,26(3):335-337.
【3】韩加强.数字射线图像缺陷尺寸的自动测定［J］.科技信息,2009(23):856-857.
【4】李衍.微焦点X射线照相法的特性和应用探讨［J］.无损探伤,1995(1):6-11.
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