High Speed Buffer Circuits for Digital Ultrasonic Instrument
摘 要
超声信号的采样过程中,大量的数据需要及时存储,以供后续的分析与处理。因内存存取速度的限制,在A/D转换速度较高的场合,采集的数字信号就有可能得不到及时存储,因此提高超声信号采样频率的关键就集中在内存的存取速度上。讨论了在目前的存储器条件下,以暂存高速数字信号为目的的高速缓存设计的几种常用方案,重点介绍了TI公司的先进先出(FIFO)器件SN74V293在数字化数据高速缓存中的应用。该器件可满足绝大多数的超声无损检测应用场合的要求。
Abstract
It is required that large amounts of data would be stored in time for further processing and analysis when ultrasonic signals are sampled. For the limitation of the access speed of memory chips, in some cases, the digital signals can not be stored totally at high sampling rate, thus the access speed of the memory becomes the bottleneck for improving the sampling rate. Several techniques for high speed buffer circuits are discussed. SN74V293, the FIFO memory produced by TI, is used to buffer the sample data in the design of a digital ultrasonic instrument. This circuit meets the requirements of the most ultrasonic NDT application.
中图分类号 TG115.28 TB553 TP274+.2
所属栏目 科研成果与学术交流
基金项目 湖北省自然科学基金(2004ABA019);湖北省教育厅项目(2004D009);宁波市自然科学基金(2006A610025)
收稿日期 2007/5/26
修改稿日期
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备注郑祥明(1971-),男,副教授,工学博士,主要研究方向为超声无损检测与无损评价。
引用该论文: ZHENG Xiang-ming,HU Jie,YANG Qi,WANG Kai-yun,TANG Zheng-nian,ZHANG Chun. High Speed Buffer Circuits for Digital Ultrasonic Instrument[J]. Nondestructive Testing, 2007, 29(11): 647~649
郑祥明,胡 杰,杨 齐,王开云,唐正年,张 春. 数字化超声仪器中的高速缓存设计[J]. 无损检测, 2007, 29(11): 647~649
被引情况:
【1】王秀,程建政,倪园, "高速超声信号采集系统的设计",无损检测 31, 144-146(2009)
【2】王秀,程建政,刘俊, "超声检测信号的高速数字化研究",无损检测 31, 297-299(2009)
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参考文献
【1】王开云,郑祥明.用于超声检测的高速数据采集卡设计[J].湖北汽车工业学院学报,2004,18(4):47-49.
【2】Texas Instruments Inc. SN74V293 first-in first-out memory data sheet[M]. US: Texas Instruments Inc,2003.
【2】Texas Instruments Inc. SN74V293 first-in first-out memory data sheet[M]. US: Texas Instruments Inc,2003.
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