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表面检测中微小缺陷的识别
          
Identifying Small Defects in Surface Inspection

摘    要
在表面缺陷检测中,针对光照不均或有纹理的产品上微小缺陷难于识别的问题,提出了一种新的视觉识别方法。该方法首先计算产品表面图像中每行和每列的灰度标准差,然后根据标准差的相对变化量判别缺陷,并确定缺陷的坐标。实验结果表明,该方法能准确识别和定位产品表面的微小缺陷。
标    签 表面检测   微小缺陷   视觉识别   Surface inspection   Small defect   Vision identifying  
 
Abstract
In surface defect inspection, a novel approach was introduced for identifying small defects on the object with non-uniform illumination or homogeneous texture. Firstly, it was to calculate the grey-level standard deviations of each row and each column in the surface image. Secondly, based on the relative variance of standard deviation, it could be confirmed whether defects were occurring or not, and the coordinate of the defect might be fixed on too. Experimental results indicated that the small defect in surface image of product could be identified accurately by this method.

中图分类号 TG115.28 TP391.41

 
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所属栏目 科研成果与学术交流

基金项目 长江学者和创新团队发展计划基金资助(IRT0423)

收稿日期 2007/11/27

修改稿日期

网络出版日期

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备注程万胜(1969-),男,博士生,主要研究方向是机器视觉在工业检测中的应用。

引用该论文: CHENG Wan-Sheng,ZHAO Jie,SONG Jun. Identifying Small Defects in Surface Inspection[J]. Nondestructive Testing, 2008, 30(4): 211~212
程万胜,赵 杰,宋 军. 表面检测中微小缺陷的识别[J]. 无损检测, 2008, 30(4): 211~212


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参考文献
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