用光谱分析进行低硅钒钛生铁的质量控制研究
THE QUALITY CONTROL RESEARCH FOR THE LOW Si-V-Ti PIG IRON BY SPECTRUM ANALYSIS
摘 要
通过使用X射线衍射仪(XRD)及扫描电子显微镜(SEM)对光谱分析用的控制样品进行相分析和显微分析，同时对光谱控制样品的取样、组织和结构等方面也进行了研究，以保证光谱分析量值传递的规范、严谨，确保光谱分析的准确性。
钒钛生铁控制样品
X射线衍射分析
扫描电子显微镜
Analysis of atomic emission spectrometry
Controling sample of vanadium titanium pig iron
X-Ray Diffraction (XRD)
Scan Electronic Microscope (SEM)
Abstract
The X-ray diffraction is used to analyze the phase of the pig iron and the scan electronic microscope is also used to examine the microstructure of the cast iron. To guarantee the accuracy of the spectrum analysis results,the sampling,microstructure and atomic transmission of the spectrum analysis value correctly are studied.
中图分类号 TG115.3
所属栏目 实验技术与方法
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收稿日期 2005/12/19
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备注税必刚(1968-)，男，工程师，工学学士。
引用该论文: SHUI Bi-gang. THE QUALITY CONTROL RESEARCH FOR THE LOW Si-V-Ti PIG IRON BY SPECTRUM ANALYSIS[J]. Physical Testing and Chemical Analysis part A:Physical Testing, 2007, 43(4): 192～193
税必刚. 用光谱分析进行低硅钒钛生铁的质量控制研究[J]. 理化检验－物理分册, 2007, 43(4): 192～193
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