电子拉力试验机横梁高速移动故障的维修
REPARATION OF ABNORMAL RUNNING FRAME OF ELECTRON TENSION TESTING MACHINE IN HIGH SPEED
摘 要
针对INSTRON公司的电子拉力静态试验机出现横梁无法高速移动的故障，结合该试验机的基本结构和工作原理，逐一对可能引起故障的因素进行了检查和分析。结果表明，故障是由驱动试验机横梁的功率放大器损坏所造成的。维修后，试验机恢复正常工作。
高速
故障
维修
Frame
High speed
Breakdown
Maintain
Abstract
Due to abnormal running of electron tension static testing machine frame of INSTRON corporation in the high speed,and based on the structure and system work theory of the testing machine,each factors possible caused breakdown had been checked and debugged. As result,a damaged power amplifier of drive machine caused frame breaking down. After maintence,the test machine recover work again.
中图分类号 TP306+.3
所属栏目 实践经验
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收稿日期 2006/9/18
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备注王 亮(1975-),男,工程师。
引用该论文: WANG Liang. REPARATION OF ABNORMAL RUNNING FRAME OF ELECTRON TENSION TESTING MACHINE IN HIGH SPEED[J]. Physical Testing and Chemical Analysis part A:Physical Testing, 2007, 43(8): 409～410
王 亮. 电子拉力试验机横梁高速移动故障的维修[J]. 理化检验－物理分册, 2007, 43(8): 409～410
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参考文献
【1】沈 鸿,周建南.电气工程师手册［M］.北京:机械工业出版社,1994:12-20．
【2】金篆芷,王明时.现代传感器技术［M］.北京:电子工业出版社,1995:41-45．
【3】施 仁,刘文江.自动化仪表与过程控制［M］.北京:电子工业出版社,1991:22-33．
【4】杨渝钦.控制电机［M］.北京:机械工业出版社,1981:9-17．
【5】尤德裴.数字化测量技术［M］.北京:机械工业出版社,1980:6-33．
【6】童诗白.模拟电子技术基础［M］.北京:人民教育出版社,1980:234-241．
【7】李瀚荪.电路分析基础［M］.北京:高等教育出版社,1993:18-20．
【2】金篆芷,王明时.现代传感器技术［M］.北京:电子工业出版社,1995:41-45．
【3】施 仁,刘文江.自动化仪表与过程控制［M］.北京:电子工业出版社,1991:22-33．
【4】杨渝钦.控制电机［M］.北京:机械工业出版社,1981:9-17．
【5】尤德裴.数字化测量技术［M］.北京:机械工业出版社,1980:6-33．
【6】童诗白.模拟电子技术基础［M］.北京:人民教育出版社,1980:234-241．
【7】李瀚荪.电路分析基础［M］.北京:高等教育出版社,1993:18-20．
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