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射频磁控反应溅射制备ZnO/AlN双层膜的结构和性能
          
STRUCTURE AND PROPERTIES OF ZnO/AlN BILAYERS PREPARED BY RF MAGNETRON REACTIVE SPUTTERING

摘    要
采用射频磁控反应溅射在Si(100)衬底上制备了ZnO/AlN双层膜。使用X射线衍射仪、原子力显微镜(AFM)、LCR测试仪及荧光分光光度计等仪器对样品进行了结构、表面形貌、导电性及荧光光谱的测试,并与相同工艺下制备的ZnO单层薄膜进行了对比研究。结果表明,ZnO/AlN双层膜的c轴择优取向性优于单层ZnO薄膜,薄膜应力更小,且为压应力,晶粒尺寸大于单层膜,表面粗糙度较小,并且其电阻率更低。荧光光谱显示,ZnO/AlN双层膜的结晶质量更好。
标    签 射频磁控反应溅射   缓冲层   表面形貌   电阻率   荧光光谱   RF magnetron reactive sputtering   Buffer layer   Surface morphology   Electrical resistivity   Fluorescence spectrum  
 
Abstract
ZnO/AlN bilayers were deposited on Si(100) subtrate by RF magnetron reactive sputtering. The structure,surface morphology,electrical resistivities and fluorescence spectrum of the ZnO/AlN bilayers were determined by using XRD,AFM,LCR HITESTER and fluoescence spectromter. Compared with ZnO/Si films prepared by using the same processing parameter,the ZnO/AlN bilayers,with a preferred orientation in c-axis,have a litter membrance stress and root-mean-square roughness,and a lower electrical resistivity. The fluorescence spectrum shows that the crystalline quality of ZnO/AlN bilayers is better than that of ZnO/Si films.

中图分类号 TB43

 
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所属栏目 试验技术与方法

基金项目 安徽省自然科学基金(03044703);安徽省红外与低温等离子体重点实验室(2007C002107D)

收稿日期 2007/7/10

修改稿日期

网络出版日期

作者单位点击查看

备注巫邵波(1982-),男,硕士研究生。

引用该论文: WU Shao-bo,LI He-qin,WANG Shu-zhan,GU Jin-bao,ZHAO Zhi-ming. STRUCTURE AND PROPERTIES OF ZnO/AlN BILAYERS PREPARED BY RF MAGNETRON REACTIVE SPUTTERING[J]. Physical Testing and Chemical Analysis part A:Physical Testing, 2008, 44(2): 71~74
巫邵波,李合琴,王淑占,顾金宝,赵之明. 射频磁控反应溅射制备ZnO/AlN双层膜的结构和性能[J]. 理化检验-物理分册, 2008, 44(2): 71~74


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