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利用控制图评价X射线荧光光谱法测定铁矿石成分分析系统的稳定性
          

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Abstract

中图分类号 O657.34   DOI 10.11973/lhjy-hx201511023

 
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所属栏目 实验室管理

基金项目 河北省科技条件建设项目(12966912D);唐山市科技计划项目(14130238B)

收稿日期 2015/4/16

修改稿日期

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引用该论文: 徐志彬,李颖娜,赵 超,王宇亮,王 钊,吴 楠. [J]. Physical Testing and Chemical Analysis part B:Chemical Analysis, 2015, 51(11): 1590~1593
徐志彬,李颖娜,赵 超,王宇亮,王 钊,吴 楠. 利用控制图评价X射线荧光光谱法测定铁矿石成分分析系统的稳定性[J]. 理化检验-化学分册, 2015, 51(11): 1590~1593


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