The Defect Inspection Based on Multi-information Using Ultrasonic Phased Array
摘 要
通过设计虚拟聚焦试验,验证了超声相控阵检测对各个阵元信号进行合成后的A扫信号具有更高的信噪比,从而在使用A扫信号进行成像时,可以提高图像的分辨率,使得缺陷的成像质量更高;更进一步地说明了阵元越多,能够得到试件的信息越多,利用信息形成的图像质量也就越高,检测结果就会更加接近缺陷的真实情况。
Abstract
Based on designing a virtual focusing experiment, it is approved that composite A-scan signal has high S/N ratio, thus the quality of the image of specimen is improved due to high resolution. It is also explained that the more elements the transducer has, the more information about the specimen can be gotten. So the image is closer to the true face of the defect due to high quality.
中图分类号 TB553 TG115.28 DOI 10.11973/wsjc201705011
所属栏目 超声相控阵检测技术应用专题
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收稿日期 2016/9/24
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备注杨天雪(1978-),男,博士,高级工程师,主要从事承压类特种设备检验工作
引用该论文: YANG Tianxue. The Defect Inspection Based on Multi-information Using Ultrasonic Phased Array[J]. Nondestructive Testing, 2017, 39(5): 49~52
杨天雪. 多信息超声相控阵缺陷检测[J]. 无损检测, 2017, 39(5): 49~52
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参考文献
【1】FREDRIK L. A method of improving overall resolution in ultrasonic phased array imaging using spatio-temporal deconvolution[J]. Ultrasonic, 2004, 42:961-968.
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