透射电镜在晶界角度测量上的应用
Application of Transmission Electron Microscopy in Grain Boundary Angle Measurement
摘 要
对透射电镜菊池线进行了研究计算，开发了菊池线的潜在应用，建立了利用透射电镜菊池线进行小角度晶界测量的新方法。结果表明，利用不同晶粒的菊池中心可以有效地计算不同晶粒之间的角度，并且角度值在不同菊池线条件下表现出的偏差极小（相对偏差仅有2.88%），具有较好的一致性。
菊池线
衍射角
角度测量
transmission electron microscopy
Kikuchi line
diffraction angle
angle measurement
Abstract
Based on the study and calculation of Kikuchi line of transmission electron microscopy, The potential application of Kikuchi line was developed, and a new method of small angle grain boundary measurement using Kikuchi line of transmission electron microscopy was established. The results show that the angle between different grains could be calculated effectively by using the Kikuchi center of different grains. In addition, the deviation of the angle value was very small (the relative deviation was only 2.88%) under different conditions of Kikuchi line, which had good consistency.
中图分类号 TG157 DOI 10.11973/lhjy-wl202006006
所属栏目 试验技术与方法
基金项目
收稿日期 2019/11/6
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备注杨晓(1985-),男,高级工程师,主要从事金属微观测试技术的研究,y19850419h@126.com
引用该论文: YANG Xiao,ZHANG Jinmin,CHEN Jieming,ZHANG Xianfeng. Application of Transmission Electron Microscopy in Grain Boundary Angle Measurement[J]. Physical Testing and Chemical Analysis part A:Physical Testing, 2020, 56(6): 24～26
杨晓,张金民,陈洁明,张先锋. 透射电镜在晶界角度测量上的应用[J]. 理化检验－物理分册, 2020, 56(6): 24～26
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参考文献
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