%0 Journal Article
%T GIS盆式绝缘子模拟缺陷的X-DR成像检测
%O The X-DR Imaging Detection of Simulation Defect in GIS Basin-Type Insulator
%A 钟飞
%A 张晓春
%A 黄升平
%A 张梦岑
%A 王冲
%A 聂铭
%A 李顺华
%A 刘国特
%J 无损检测
%@ 1000-6656
%V 40
%N 1
%D 2018
%P 45-49
%K X-DR成像技术;盆式绝缘子;无损检测;正交试验;缺陷检测
%X 利用X射线DR成像技术对盆式绝缘子进行可视化无损检测，在不拆解和破坏GIS （气体绝缘全封闭组合电器）设备的情况下，实现了对盆式绝缘子的透照及缺陷检测；利用正交试验法找出了X射线机透照的最优参数设置，减少了试验次数，提高了试验效率。结果表明，X射线DR成像技术可以识别出盆式绝缘子的裂纹和气泡类缺陷。
%R 10.11973/wsjc201801011
%U http://www.mat-test.com/abstract.htm?aid=OJ180129000047dJgMjP
%W 材料与测试网
%1 JIS Version 3.0.0