%0 Journal Article
%T AgCuV合金导电滑环内部缺陷产生原因分析
%O Cause Analysis on Internal Defects of AgCuV Alloy Conductive Slip Ring
%A 韩天棋
%A 齐岳峰
%A 王峰
%A 焦磊
%J 理化检验－物理分册
%@ 1001-4012
%V 56
%N 2
%D 2020
%P 35-38
%K 导电滑环;超声检测;AgCuV合金;裂纹;元素偏析;第二相
%X AgCuV合金导电滑环在进行超声检测时发现有内部缺陷的存在。采用化学成分分析、超声检测、金相检验、扫描电镜及能谱分析等方法对缺陷产生的原因进行了分析。结果表明：AgCuV合金导电滑环经超声检测发现的内部缺陷是裂纹，脆性的含钒第二相与AgCu合金基体的结合力弱并且易碎，在应力集中处产生了微裂纹，微裂纹沿着第二相与基体结合力弱的部位扩展，最终导致AgCuV合金导电滑环内部缺陷的产生。
%R 10.11973/lhjy-wl202002009
%U http://www.mat-test.com/abstract.htm?aid=OJ200229000025A7C0Fb
%W 材料与测试网
%1 JIS Version 3.0.0