%0 Journal Article
%T 相控阵超声检测缺陷识别与分类研究进展
%O Research progress on defect recognition and classification by using phased array ultrasonic testing
%A 刘春华
%A 周长霖
%A 陈晓辉
%A 陈钦
%J 无损检测
%@ 1000-6656
%V 45
%N 12
%D 2023
%P 31-37
%K 相控阵超声;超声无损检测;超声成像;缺陷识别与分类
%X 相控阵超声技术是近年来无损检测领域的重点研究方向之一，已经取得了飞速发展，其中基于相控阵超声成像的缺陷识别与分类是研究的热点之一。概述了相控阵超声无损检测的基本原理，介绍了具有代表性的缺陷识别与分类算法，包括支持向量机、人工神经网络、遗传算法、神经进化算法和基于深度学习的算法。最后指出了现有缺陷识别与分类算法面临的挑战，并结合实际提出了相控阵超声缺陷识别与分类的发展方向。
%R 10.11973/wsjc202312007
%U http://www.mat-test.com/abstract.htm?aid=OJ231227000016IeLhOk
%W 材料与测试网
%1 JIS Version 3.0.0