在从事ICP-AES分析的朋友中，许多人喜欢用标准加入法试验来验证方法的正确性或分析结果的正确性。这是不正确的。

在早期ICP-AES开发应用的基础研究中已经阐明，ICP炬焰的环状结构使之与电弧、火花及化学火焰等光源有不同的基体效应。ICP炬是一个环状的感应放电的等离子体，有一个中心通道，试样气溶胶在中心通道内获得周围放电区的加热，进行去溶，蒸发，原子化，激发，辐射等过程。由于试样没有进入放电区，所以不影响放电的参数，不同基体物质因而不致影响ICP炬的激发特性。甚至有人偏执地说，ICP光源没有基体效应。此后进一步的研究表明，这类基体的影响还是存在的，但与电弧、火花、化学火焰等常规光源相比，对原子化和激发的影响要轻微得多。ICP光源的基体效应主要表现在分析线受到的光谱干扰。光谱干扰是ICP-AES分析影响正确度的主要因素。这些光谱干扰来源于背景，邻接谱线的翼部叠加，分子光谱成分的叠加等，这些落在分析线位置的非分析线信号，统称背景信号，是产生光谱干扰的来源。在分析中，测定结果包括了背景引起的‘背景等效浓度’，使分析结果产生误差，影响分析的正确度。

采用校准曲线法测定时，
测定值 = 分析线信号的浓度 + 背景等效浓度

采用标准加入法做回收率试验时， 
测定值（加标） = 分析线信号的浓度 + 加入标准的浓度 + 背景等效浓度

两式之差的结果得到理论上100% 的加标回收率。这个试验既不能发现光谱干扰引起的误差来源，也不能纠正光谱干扰引起的误差。因此，用加标回收率试验在ICP-AES中是没有意义的。

根据同样的道理，在其他原子光谱分析中，分析信号受到叠加背景的情况下，加标回收率试验也是没有意义的。如在原子吸收光谱分析中，只有扣除背景的情况下，才能够使用加标回收率试验验证正确度，或采用标准加入法做外推测定试样中被测元素的含量。

附带指出，加标回收率试验应该包括从制样到测定的全过程，这样可以验证分析过程中沾污、损失；而标准加入法是在制样后的测定步骤才使用的，用于补偿共存物对原子化过程的不明影响。