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超声相控阵检测硬件电路设计
          
The Design of Ultrasonic Phased Array Testing Hardware Circuit

摘    要
相控阵超声成像检测技术在工业无损检测领域中的应用越来越广泛。其通过控制阵列探头中各个阵元激励脉冲的时间延迟,以实现聚焦点位置和声束方位的变化,从而合成相控阵波束,完成超声扫描成像。设计了超声发射接收电路,并通过超声标准试块验证单通道超声检测电路的可行性。根据设计要求,将单通道电路进行相应的扩展,可得到多通道相控阵超声检测电路并通过控制现场可编程门阵列(FPGA)实现检测。
标    签 相控阵超声成像   发射电路   信号处理电路   试块检测   Ultrasonic phased array imaging   Transmitting circuit   Signal processing circuit   Block detection  
 
Abstract
Nowadays the ultrasonic phased array imaging detection technology has an increasingly wide application in the field of industrial non-destructive testing. By controlling the delay time of each element, the technology can change the location of the focus point and the direction of the beam and therefore form combined phased beam, complete ultrasonic scanning imaging .This paper studies the design of ultrasonic transmit-receive circuit. And use ultrasound test block is used to verify the feasibility of the single-channel ultrasonic testing circuit. The actual phased array ultrasonic detection circuit is a repeated combination of the single-channel circuit and the FPGA is then used to achieve detection.

中图分类号 TG115.28 TN911.7

 
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所属栏目 试验研究

基金项目 国家科技部国际合作资助项目(2011DFR71080)

收稿日期 2013/9/12

修改稿日期

网络出版日期

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备注:王海涛(1986-),男,博士,教授,主要从事光学、超声、电磁无损检测技术的研究。

引用该论文: WANG Hai-tao,GE Jin-xin,YANG Xian-ming. The Design of Ultrasonic Phased Array Testing Hardware Circuit[J]. Nondestructive Testing, 2014, 36(5): 19~22
王海涛,葛金鑫,杨先明. 超声相控阵检测硬件电路设计[J]. 无损检测, 2014, 36(5): 19~22


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参考文献
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