气相色谱法测定四氯化硅的纯度
GC Determination of Purity of Silicon Tetrachloride
摘 要
提出了气相色谱法测定四氯化硅的纯度。采用LD-SE-54(0.53 mm×30 m,1.2 μm)石英毛细管色谱柱分离,热导检测器检测,面积归一化法定量。方法用于分析四氯化硅标准样品,测定值与标准值的相对误差为0.18%,相对标准偏差(n=5)为0.12%。
热导检测器
四氯化硅
纯度
GC
Thermo-conductivity detector
Silicon tetrachloride
Purity
Abstract
A method of GC for the determination of purity of silicon tetrachloride was proposed. Sample was separated on LD-SE-54 quartz capillary column (0.53 mm×30 m, 1.2 μm)and determined with thermo-conductivity detector (TCD). The quantification was carried out by the method of normalization. The proposed method was used in the analysis of a standard sample of silicon tetrachloride, the relative error between the result obtained and the certified value was found to be 0.18%, and values of RSD (n=5) found was 0.12%.
中图分类号 O657.7
所属栏目
基金项目 黔科合高字(2006)5014项目与［2007］筑科工合字第1-11号项目联合资助
收稿日期 2010/3/29
修改稿日期
网络出版日期
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备注方志青(1985-),女,贵州贵阳人,讲师,主要从事色谱分析和环境污染治理工作。
引用该论文: FANG Zhi-qing,ZHANG Ming-shi,LIN Ye,QIN Fan-xin2. GC Determination of Purity of Silicon Tetrachloride[J]. Physical Testing and Chemical Analysis part B:Chemical Analysis, 2011, 47(5): 528～529
方志青,张明时,林野,秦樊鑫. 气相色谱法测定四氯化硅的纯度[J]. 理化检验－化学分册, 2011, 47(5): 528～529
被引情况:
【1】于晓艳,陶明,左世芳,杨红燕,李亚娜,张永凤,赵建为, "分子直径法计算相对校正因子在气相色谱法测定三氯氢硅含量中的应用",理化检验－化学分册 52, 183-186(2016)
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参考文献
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