X射线多晶衍射试验中FWHM测量的影响因素
Influencing Factors of FWHM Measuring in Polycrystal X-ray Diffraction
摘 要
简单介绍了X射线多晶衍射中FWHM的定义及应用。单纯从试验技术的角度出发, 使用荷兰Philips公司生产的X′Pert MPD Pro型衍射仪, 以Philips公司提供的标准多晶硅片为试样, 逐一考察了仪器设置、程序设置、试样制备以及试验数据处理等因素对于FWHM测量结果的影响并分析了其中的原因。在此基础上总结出精确测量FWHM的一套试验方法。
FWHM
X射线管
狭缝
影响因素
polycrystal X-ray diffraction
FWHM
X-ray tube
slit
influencing factors
Abstract
A simple introduction for the concept and application of FWHM in polycrystal X-ray diffraction was given. From experimental technology, the influence of FWHM measuring made by instrument settings, program settings, sample preparation, data processing and so on was researched. The diffractometer was X′Pert MPD Pro made by Philips, the sample was polycrystal silicon sample provided by Philips. A method how to exactly measure the FWHM was summarized.
中图分类号 O212 TG115.23
所属栏目 试验技术与方法
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收稿日期 2012/11/12
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备注许聚良(1976-), 男, 工程师, 工学硕士。
引用该论文: XU Ju-liang,GUO Jing-na. Influencing Factors of FWHM Measuring in Polycrystal X-ray Diffraction[J]. Physical Testing and Chemical Analysis part A:Physical Testing, 2013, 49(11): 731～735
许聚良,郭敬娜. X射线多晶衍射试验中FWHM测量的影响因素[J]. 理化检验－物理分册, 2013, 49(11): 731～735
被引情况:
【1】马英华, "塑料型材用钛白粉的质量对比分析",理化检验－物理分册 50, 331-333(2014)
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参考文献
【1】何明跃, 王濮.石英的结晶度指数及其标型意义[J].矿物岩石, 1994, 14(3):22-28.
【2】王河锦, 周健.关于伊利石结晶度诸指数的评价[J].岩石学报, 1998, 14(3):395-405.
【3】徐春华, 朱光, 刘国生, 等.伊利石结晶度在恢复地层剥蚀量中的应用[J].地质科技情报, 2005, 24(1):41-44.
【4】朱光辉, 仵永刚, 魏建文.GCr15钢回火过程中X射线半高宽的变化[J].物理测试, 2009,27(3):22-25.
【5】李树堂.晶体X射线衍射学基础[M].北京: 冶金工业出版社, 1990: 169-188.
【6】克鲁格 H P, 亚历山大 L E.X射线衍射技术[M].盛世雄, 译.2版.北京: 冶金工业出版社, 1986: 395-457.
【7】王英华.X光衍射技术基础[M].北京: 原子能出版社, 1993: 263-280.
【8】丛秋滋.多晶二维X射线衍射[M].北京: 科学出版社, 1997: 220-262.
【9】腾风恩, 王煜明, 姜小龙.X射线结构分析与材料性能表征[M].北京: 科学出版社, 1997: 177-185.
【10】丘利, 胡玉和.X射线衍射技术及设备[M].北京: 冶金工业出版社, 1998: 121-153.
【11】腾风恩, 王煜明.X射线分析原理与晶体衍射实验[M].长春: 吉林大学出版社, 2002: 298-311.
【12】祁景玉.X射线结构分析[M].上海: 同济大学出版社, 2003: 106-114.
【13】廖立兵, 李国武.X射线衍射方法与应用[M].北京: 地质出版社, 2008:112-113.
【14】姜传海, 杨传铮.X射线衍射技术及其应用[M].上海: 华东理工大学出版社, 2010: 108-114.
【15】梁敬魁.粉末衍射法测定晶体结构[M].北京: 科学出版社, 2003: 263-272.
【16】马礼敦.近代X射线多晶体衍射[M].北京: 化学工业出版社, 2004: 383-384.
【2】王河锦, 周健.关于伊利石结晶度诸指数的评价[J].岩石学报, 1998, 14(3):395-405.
【3】徐春华, 朱光, 刘国生, 等.伊利石结晶度在恢复地层剥蚀量中的应用[J].地质科技情报, 2005, 24(1):41-44.
【4】朱光辉, 仵永刚, 魏建文.GCr15钢回火过程中X射线半高宽的变化[J].物理测试, 2009,27(3):22-25.
【5】李树堂.晶体X射线衍射学基础[M].北京: 冶金工业出版社, 1990: 169-188.
【6】克鲁格 H P, 亚历山大 L E.X射线衍射技术[M].盛世雄, 译.2版.北京: 冶金工业出版社, 1986: 395-457.
【7】王英华.X光衍射技术基础[M].北京: 原子能出版社, 1993: 263-280.
【8】丛秋滋.多晶二维X射线衍射[M].北京: 科学出版社, 1997: 220-262.
【9】腾风恩, 王煜明, 姜小龙.X射线结构分析与材料性能表征[M].北京: 科学出版社, 1997: 177-185.
【10】丘利, 胡玉和.X射线衍射技术及设备[M].北京: 冶金工业出版社, 1998: 121-153.
【11】腾风恩, 王煜明.X射线分析原理与晶体衍射实验[M].长春: 吉林大学出版社, 2002: 298-311.
【12】祁景玉.X射线结构分析[M].上海: 同济大学出版社, 2003: 106-114.
【13】廖立兵, 李国武.X射线衍射方法与应用[M].北京: 地质出版社, 2008:112-113.
【14】姜传海, 杨传铮.X射线衍射技术及其应用[M].上海: 华东理工大学出版社, 2010: 108-114.
【15】梁敬魁.粉末衍射法测定晶体结构[M].北京: 科学出版社, 2003: 263-272.
【16】马礼敦.近代X射线多晶体衍射[M].北京: 化学工业出版社, 2004: 383-384.
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