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X射线荧光光谱法测定合金中的磷
          
XRFS Determination of Phosphorus in Alloy

摘    要
采用X射线荧光光谱法测定铁基和镍基合金中磷的含量.选用钨的Mα线和钼的Lα线作为测量重叠干扰系数时的参照线.选用合金系统中不存在的钾和钪元素作为校正元素代替钨和钼,这两个元素实际测量的分别是钨的Mα线和钼的Lα线.分别用只含钼和同时含钼、钨的两套标准样品测定了重叠干扰系数,并制定了分析磷的校准曲线.方法应用于标准样品的测定,测定值与认定值相符,测定值的相对标准偏差(n=10)为0.68%.
标    签 X射线荧光光谱法   合金     XRFS   Alloy   Phosphorus  
 
Abstract
XRFS was applied to the determination of phosphorus in alloy. Mα line of tungsten and Lα line of molybdenum were used as reference lines for measuring the overlap interfering coefficient. Potassium and scandium which are not present in the alloy were selected as replacing elements of tungsten and molybdenum,and the actual 2θ angles measured were Mα of tungsten and Lα of molybdenum. Two sets of standard samples,one containing only molybdenum and the other containing both tungsten and molybdenum,were used to measure the overlap interfering coefficient and calibration curve was made to analyze phosphorus .The proposed method was applied to the analysis of standard samples,giving results in consistency with the certified values,and RSD (n=10) found was 0.68%.

中图分类号 O657.34

 
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收稿日期 2013/8/24

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备注牛昌安(1962-),男,辽宁瓦房店人,研究员级高级工程师,硕士,主要从事理化检测方向的研究.

引用该论文: NIU Chang-an,ZHANG Peng,TENG Zhi-qiang,TANG Xia. XRFS Determination of Phosphorus in Alloy[J]. Physical Testing and Chemical Analysis part B:Chemical Analysis, 2015, 51(2): 235~238
牛昌安,张鹏,滕志强,唐侠. X射线荧光光谱法测定合金中的磷[J]. 理化检验-化学分册, 2015, 51(2): 235~238


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参考文献
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【5】杨丽,张环月,唐侠.X射线荧光光谱分析中谱线重叠系数的测定及其应用[J].理化检验-化学分册,2012,48(增):11-15.
 
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