离子束截面抛光-电子探针仪分析在SiCp/Al复合材料相结构研究中的应用
Application of CP-EPMA in Study of Phase Constitutes of SiCp/Al Composite
摘 要
SiC颗粒增强铝基复合材料（SiCp/Al），由于其结构复杂且各组成单元之间的物理、化学性质存在明显的差异，因而在试样制备、微观结构表征等工作中存在一定困难。利用离子束截面抛光（CP）制样技术结合电子探针X射线分析仪（EPMA）分析，提出了一种适宜解析这种复合材料微观相结构的方法。试验结果证实：该方法效果明显，结果直观、可靠；并可推广到类似材料的微观结构精细解析研究中。
电子探针仪分析
SiCp/Al复合材料
相结构解析
ion beam cross-sectional polishing
electron probe microanalysis
SiCp/Al composite
phase constitute analysis
Abstract
There are difficulties in sample preparation and microstructure characterization of SiC particles reinforced Al-based (SiCp/Al) composite due to the complexity of phase constitutes and large difference in physical and chemical properties of the constituted phases. Ion beam cross-sectional polishing (CP) combined with electron probe microanalysis (EPMA) was successfully applied to characterize the detailed microstructure of SiCp/Al composite. The experimental results show that this method is effective, and the results are visual and reliable. The method was thus proven to be applicable to study the phase constitutes of the materials with a similar character.
中图分类号 TB3 TG115.21+5.7 DOI 10.11973/lhjy-wl201702006
所属栏目 试验技术与方法
基金项目 国家重点基础研究发展计划资助项目（2012CB619600）
收稿日期 2015/10/31
修改稿日期
网络出版日期
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备注胡莹(1981-),女,博士研究生,研究方向为复合材料。
引用该论文: HU Ying,ZHANG Lan-ting. Application of CP-EPMA in Study of Phase Constitutes of SiCp/Al Composite[J]. Physical Testing and Chemical Analysis part A:Physical Testing, 2017, 53(2): 101～104
胡莹,张澜庭. 离子束截面抛光-电子探针仪分析在SiCp/Al复合材料相结构研究中的应用[J]. 理化检验－物理分册, 2017, 53(2): 101～104
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