微区残余应力的毛细管X射线透镜检测方法
The Method of Capillary X-ray Lens Measurement of Micro-area Residual Stress
摘 要
针对现有小功率残余应力仪在进行微区应力检测时，存在衍射强度低导致测试准确度低、稳定性差等问题，阐述了一种毛细管X射线透镜结合应力仪实现微区应力检测的方法。采用基于全反射原理的透镜，通过对X射线的调控，形成微区照射面积，将相同照射面积下的光强度提高数十倍，且在衍射半高宽适度增大的情况下，对检测出的应力值影响不大。
残余应力
微区
capillary X-ray lens
residual stress
micro-area
Abstract
The low-power residual stress measurement systems have disadvantage of poor accuracy and low stability due to weak detectable diffraction intensity. In this paper, a capillary X-ray optics has been applied in residual stress measurement systems for micro-area measurement. Through the regulation of X-ray and the formation of micro irradiation area, the area under the same irradiation intensity increase several times, and the FWHM of diffraction moderate increases, the stress value has little effect on accuracy.
中图分类号 TG115.28 DOI 10.11973/wsjc201707015
所属栏目 试验研究
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收稿日期 2016/12/6
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备注郭非(1990-),男,硕士研究生,主要从事无损检测、应力分析、毛细管光学透镜研制等工作
引用该论文: GUO Fei,AN Ning,WU Siyu,ZHOU Peng,LIU Xin,LI Yude. The Method of Capillary X-ray Lens Measurement of Micro-area Residual Stress[J]. Nondestructive Testing, 2017, 39(7): 65～68
郭非,安宁,吴思宇,周鹏,刘芯,李玉德. 微区残余应力的毛细管X射线透镜检测方法[J]. 无损检测, 2017, 39(7): 65～68
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参考文献
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