GIS盆式绝缘子模拟缺陷的X-DR成像检测
The X-DR Imaging Detection of Simulation Defect in GIS Basin-Type Insulator
摘 要
利用X射线DR成像技术对盆式绝缘子进行可视化无损检测，在不拆解和破坏GIS （气体绝缘全封闭组合电器）设备的情况下，实现了对盆式绝缘子的透照及缺陷检测；利用正交试验法找出了X射线机透照的最优参数设置，减少了试验次数，提高了试验效率。结果表明，X射线DR成像技术可以识别出盆式绝缘子的裂纹和气泡类缺陷。
盆式绝缘子
无损检测
正交试验
缺陷检测
X-DR imaging technology
basin-type insulator
nondestructive testing
orthogonal test
defect detection
Abstract
In this paper, X-DR imaging technology is applied to the visualization nondestructive testing of basin-type insulator. Without dismantling and destroying the GIS device, it can realize the radiography and defect detection of basin-type insulator. The optimal parameters of the X-ray machine are found by orthogonal test method, which can greatly reduce the number of experiments and improve the efficiency of the experiment. The results show that the X-DR imaging technology can be used to identify the cracks and bubble defects of the basin-type insulator.
中图分类号 TG115.28 DOI 10.11973/wsjc201801011
所属栏目 试验研究
基金项目 南方电网科技资助项目（GDKJ00000035）
收稿日期 2017/5/29
修改稿日期
网络出版日期
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备注钟飞(1979-),男,博士,高级工程师,主要从事电力器材和材料的无损检测工作
引用该论文: ZHONG Fei,ZHANG Xiaochun,HUANG Shengping,ZHANG Mengcen,WANG Chong,NIE Ming,LI Shunhua,LIU Guote. The X-DR Imaging Detection of Simulation Defect in GIS Basin-Type Insulator[J]. Nondestructive Testing, 2018, 40(1): 45～49
钟飞,张晓春,黄升平,张梦岑,王冲,聂铭,李顺华,刘国特. GIS盆式绝缘子模拟缺陷的X-DR成像检测[J]. 无损检测, 2018, 40(1): 45～49
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参考文献
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