高分子超薄膜在电子、信息和生命等诸多领域的应用,使之成为高分子材料和高分子物理领域的研究热点之一。结晶高分子薄膜的性能与其大分子链构象、聚集态结构和表面微图案都密切相关。近十年来,随着功能高分子单晶(含单层或寡层片晶)工程及应用研究的不断深入,除了纳米尺度结晶形貌的表征以外,多功能原子力显微镜还被用于研究分子结构、结晶条件和后处理条件对功能高分子晶体性能(电、热、光、磁等)的影响,进一步还可采用扫描探针加工技术(机械刻蚀、电致刻蚀和热致刻蚀等)对其性能进行调控以构筑功能化聚集态结构和微图案。另一方面,超薄膜中单层或寡层片晶也可为研究高分子结晶提供合适的模型体系,与原子力显微镜相结合,不但可以在原位、实空间、高分辨地研究高分子的成核与生长过程(生长形态演变和生长动力学),还可以用于研究亚稳态折叠链片晶厚度和形态随热处理温度与时间的演化,从而加深对片晶内有序差异、片晶增厚与熔融行为和自诱导成核的认识。张彬教授主要围绕采用原子力显微镜研究超薄膜中高分子的成核生长及形态演变机制、导电高分子薄膜晶体性能表征与扫描探针刻蚀构筑导电图案三个方面论述了近几年来的研究结果及相关进展。
论文链接:https://doi.org/10.11777/j.issn1000-3304.2019.19185
来源:高分子学报