Page 121 - 2022'中国无损检测年度报告
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                                                                                                            2022
 20222  ࠛ௨ចय़ˮڥQGWખ౎˘ᛸˡԾࡰᤠቅ                    ࠛ௨ចय़ˮڥQGWખ౎˘ᛸˡԾࡰᤠቅ                                            2 2
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                                                               TFM 图像显示呈镜面反射,可采用 dB 法测量尺
                                                               寸大小。而在使用 PCI 检测时,期望能够显示两
                                                               个尖端衍射以便测量尺寸,但实际只显示一个回
                                                               波。这是因为 PCI 是一种非基于振幅的成像技术,
                                                               所以不能使用幅值法确定缺陷大小。如果未熔合
                                                               缺陷相对光滑,并且探头位置使其声束与缺陷垂
                                                               直时,就会发生这种效应。对于这个位置,未熔
                                                               合缺陷的作用就像几何结构回波,只有对称路径
                                                               在缺陷中间才会有成像显示。





               图 12  探头在焊缝两侧采用 PCI 技术获得的各缺陷图像
                  当使用多组和全矩阵采集 FMC 执行 PCI 检
              测时,主要的困难是扫描速度。笔者评估了使用
              PWI 和 PCI 组合来检测该焊缝的可能性,如仅使
              用 8 个角度,扫描速度提高了 8 倍。
                  采用全矩阵 FMC 和 PWI 所得到的未熔合图                            (a) TFM 图像                      (b) PCI 图像
              像如图 13 所示,可见,信噪比从 FMC 时的 22
                                                                       图 14  含未熔合缺陷试块的检测图像
              dB 下降到 PWI 时的 12 dB。虽然足以检测尖端
                                                                    另外,分别使用一次波和一次反射波进行缺
              衍射回波并进行尺寸测量,但实际检测时还需要
              检测人员评估必要的角度数量,在含有人工缺陷                            陷尺寸测量时也会出现差异。例如,通过沿尖端
              的校准块上获得足够的信噪比。                                   衍射定位光标(见图 15),在一次波和一次反射
                                                               波使用尖端衍射回波来确定未熔合缺陷尺寸时,
                                                               得到的缺陷高度分别为 5 mm 和 3.9 mm。这种
                                                               差异可能是由于底面与表面没有完全平行以及 UT
                                                               声束参数不当等因素引起,还需要进行更多的试
                                                               验来确定这种差异的来源。




                              (a) FMC 图像







                                                                      (a) 一次反射波图像                (b) 一次波图像
                                                                  图 15  一次波和一次反射波测量缺陷尺寸时的差异

                                                               3  结语
                               (b) PWI 图像
                                                               3.1 PCI 技术优势
                 图 13 采用全矩阵 FMC 和 PWI 得到的未熔合图像
                                                                    (1)PCI 是一种补充技术,在得到较明显
              2.4 检测注意事项                                       的尖端衍射回波的情况下,对未熔合和裂纹具有
                  使用 TFM 和 PCI 两种方式对一块含有未熔                     更精确的尺寸测量能力。
              合缺陷的试块进行检测(结果见图 14),发现                                (2)在不增加增益的情况下,PCI 方法的


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