Page 122 - 2022'中国无损检测年度报告
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气孔检出率更高。 良好的信噪比。
(3)PCI 对被动孔径方向指示不敏感。 (2)对于一些表面光滑缺陷,如未熔合,
(4)PCI 成像可以消除来自几何结构的伪 可能发现不了尖端衍射信号,从而无法进行尺寸
影,因此在进行 L0 纵波检测时,更适合检测靠 测量,这时需要改变步进偏移,直到尖端衍射出现。
近根部的小缺陷。 (3)由于消除了几何机构回波,PCI 不适
(5)由于基于尖端衍射进行测量,PCI 成 合腐蚀缺陷或复合材料缺陷检测。
像可对缺陷进行定量,而无需校准。 (4) PCI 不能很好地检测出靠近表面的缺陷。
3.2 PCI 技术劣势 Eddyfi Technologies 将为 Mantis™、
(1)由于 PCI 成像的信噪比取决于激发 - Gekko® 和 Topaz® 产品线推出 PCI 检测技术,
接收阵元的数量,建议使用全矩阵采集,这将导 可以使用多组配置同时执行 TFM 和 PCI,并将
致扫查速度变慢,特别是当从焊缝两侧同时进行 其与 PWI 技术相结合以实现更快的检测和采集,
检测时尤为明显。PCI 和 PWI 的组合是可以使用 从而满足用户更多的检测应用需求,并提供评估
的,但检测人员必须调整好角度的数量,以获得 分析技术。
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