Page 121 - 电力与能源2024年第二期

刘 晗，等：二次设备端子排可靠连接检测技术研究 261

触电阻变大，从而导致接触不良。模拟量回路一般 试开始时，螺丝处于松动状态，当螺丝紧固后，与
使用试验型端子排，在试验型端子排连接片紧固夹 导线以及连接排接触，其接触电阻会发生显著变
片脱落或槽中落入异物等情况下，多数需要拆除端 化，但一般均在毫欧姆级别，常规的万用表无法准
子排处理，而处理完成后会因操作不当而反复发生 确测量。然而通过引入低压恒流电流源，形成稳
接触压力变化，这也会使得接触电阻增大。 定的测试电流，可以灵敏地捕捉这些微小的电阻

（3）人为安装不良。端子排与导轨之间特殊 值，从而判断接线螺丝是否松动。此外还可以通
的安装、拆卸方式导致更换效率较低。端子排通 过特殊滚轮结构，实现多个端子排的同时测试，从
过卡扣进行固定，朝向内侧，存在与其他部件距离 而大幅降低现场人工拉扯二次线的劳动强度，提
裕度不足、难以用一般工具或方法进行拆装的问 升检测质量。
题。若接线方式不恰当，会引起接线松动，从而引 2.2 样机结构设计

发二次回路接触不良故障。 端子排接触检测仪结构如图 1 所示，电路结
1.2 端子排常见缺陷种类 构如图 2 所示。在图 1 和图 2 中，1 为探针滚轮，2
（1）发霉、锈蚀、烧毁。端子箱和机构箱的端 为电源开关，3 为恒流二极管，4 为电池，5 为毫伏
子排常安装在户外，运行环境恶劣，潮湿、高温等 表，6 为测试探针，7 为探针滚轮支架，8 为电路元
气候条件会导致金属部件逐渐发霉、锈蚀，严重时 件盒。其中，电源开关、恒流二极管、电池与毫伏
甚至会导致螺丝锈蚀而不能操作、接线与端子黏 表位于电路元件盒内部。
连、部件腐烂松动等后果 。当端子连接片或接
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线因虚接而在二次电流回路中导致开路时，会产
生严重的发热现象，甚至可能引发熔毁，进而造成
多个电流回路断线、短路等情况，严重时可能会将
端子排烧毁。
（2）螺丝与顶帽磨损。如果端子排质量存在

问题，或操作过程中存在违规操作，可能会导致螺
图 1 端子排接触检测仪结构
丝螺纹受损。另外，频繁的操作也可能导致螺丝
顶帽磨损，使其失去紧固功能或螺丝刀难以使其 探针滚轮为圆柱形滚轮，中间设有绝缘转轴，
受力旋转而无法进行紧固操作。 绝缘转轴两端安装在探针滚轮支架上，探针滚轮
（3）连接片脱离。如果试验型端子排的内外 中间部分为绝缘材质，两端为金属材质，两端金属
层连接片因螺丝松动而过度操作，可能会导致相 材质部分互相错开 90°沿径向分别布置 4 个测试

互脱离，当内层连接片留在槽中时，将难以进行 探针，测试探针伸长状态长度不大于 0.6 cm，测试
组装。 探针为轴向弹性探针，其针尖部分均设有银质纤
（4）连接片槽中落入异物。在接线施工过程 维棉，测试探针共有 8 个，分别位于探针滚轮两端
中，朝上横向布置的试验型端子排可能存在二次 金属材质上，每端各 4 个，测试探针之间的间距与
线芯头剪断后存在落入连接片槽的可能，这将导 所测试的端子排接线螺丝距离相同。探针滚轮两

致连接片滑动受阻。 端金属材质部分分别与恒流二极管、电池以及测
试开关串联连接，毫伏表与探针滚轮两端金属材
2 端子排接触不良检测方案
质部分并联，恒流二极管的恒定电流值为 1 A。
2.1 端子排接触不良检测思路 在使用时，仅需要将测试滚轮沿着端子排依
本文依托超低电压恒流电流源，实现端子排 次滚动，由于端子排螺丝孔与测试滚轮位置对应，
两个螺丝之间接触压降或阻抗的精确测量。在测 测试探针可以依次滚入每排端子，既不会交叉插